自动测试产生的英文

• automatic test generation (atg)

• "自动"英文翻译    voluntarily; of one's own ac ...
• "测试"英文翻译    test; testing; checkout; mea ...
• "产生"英文翻译    produce; engender
• "自动测试产生器" 英文翻译 :    automatic test generator (atg); generator automatic test; generator, automatic test (atg)
• "自动测试模式产生" 英文翻译 :    automatic test pattern generation (atpg)
• "自动测试码产生系统" 英文翻译 :    automatic test pattern generation system
• "自动测试图形产生系统" 英文翻译 :    automatic test pattern generation system
• "自动测试" 英文翻译 :    ate automatic test equipment; auto test; automatic testing; autotest; test automation
• "自动测试部" 英文翻译 :    division of auto testing
• "自动测试器" 英文翻译 :    automatic tester
• "自动测试仪" 英文翻译 :    automatic checkout tester
• "临界通路测试产生法" 英文翻译 :    critical path test generation
• "路径敏化测试产生法" 英文翻译 :    path sensitizing test generation
• "自动测试设备，自动测试装置" 英文翻译 :    automated test equipment (ate)
• "半自动测试器" 英文翻译 :    semiautomatic tester
• "井内自动测试" 英文翻译 :    automatic silo checkout test
• "开机自动测试" 英文翻译 :    power on self test
• "线路自动测试" 英文翻译 :    automatic line test
• "自动测试案例" 英文翻译 :    automated test case
• "自动测试程序" 英文翻译 :    autotest program
• "自动测试能力" 英文翻译 :    automatic test capability
• "自动测试设备" 英文翻译 :    ate automatic test equipment; automatic test equipment (ate); automatic-checkout equipment
• "自动测试生成" 英文翻译 :    automatic test generation
• "自动测试系统" 英文翻译 :    ats automatic test system; auto-test system; automated test system; automatic test system
• "自动测试仪器" 英文翻译 :    ate automatic test equipment

• Test generation , automatic
  自动测试产生
• This dissertation designs a data structure , etbl , for rtl circuits for vlsi atpg
  本文根据超大规模集成电路自动测试产生要求，设计了rtl电路的数据结构etbl 。
• We apply the two algorithms to generate tests for iscas - 85 and iscas - 89 benchmarks
  并且在iscas - 85和iscas - 89系列veriloghdl描述的benchmark电路上分别应用这两种算法进行自动测试产生。
• This dissertation focuses on automatic test generation ( atpg ) algorithms for very large - scale integrated circuits at register - transfer - level ( rtl )
  本文主要是对大规模、超大规模集成电路寄存器传输级（ rtl ）的自动测试产生算法进行研究。
• Experimental results show that more than 20 % stuck - open faults in part of is85 and iscas89 circuits can produce 2 . 5 times iddr variation , and then can be detected by iddt testing
  实验结果表明，电路中相当一部分故障是i _ ( ddt )可测的。并与以前的自动测试产生算法做了比较，此算法稳定性好、速度快且可测性测度值好。
• Based on rtl circuits structure described in etbl , this dissertation presents two hierarchical atpg algorithms based on structure for rtl combinational circuits . the two algorithms generate tests for rtl circuits by test sets for modules
  本文在etbl描述的rtl电路结构的基础上，进行rtl组合电路自动测试产生算法的研究，提出了两个基于结构的rtl组合电路分层测试产生算法。