自动测试产生造句
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- 本文根据超大规模集成电路自动测试产生要求,设计了rtl电路的数据结构etbl 。
- 并且在iscas - 85和iscas - 89系列veriloghdl描述的benchmark电路上分别应用这两种算法进行自动测试产生。
- 本文主要是对大规模、超大规模集成电路寄存器传输级( rtl )的自动测试产生算法进行研究。
- 实验结果表明,电路中相当一部分故障是i _ ( ddt )可测的。并与以前的自动测试产生算法做了比较,此算法稳定性好、速度快且可测性测度值好。
- 本文在etbl描述的rtl电路结构的基础上,进行rtl组合电路自动测试产生算法的研究,提出了两个基于结构的rtl组合电路分层测试产生算法。
- 用自动测试产生造句挺难的,這是一个万能造句的方法
其他语种
- 自动测试产生的英语:automatic test generation (atg)