二次离子的英文

• secondary ion

• "二次"英文翻译    secondary; quadratic
• "离子"英文翻译    ion
• "二次离子本底" 英文翻译 :    secondary ion background
• "二次离子谱法" 英文翻译 :    secondary ion spectroscopy; secondary limiting e.m.f
• "二次离子谱仪" 英文翻译 :    secondary ion spectrometer; secondary ion spectroscopy
• "二次离子质谱" 英文翻译 :    secondary ion mass spectrum
• "二次离子变换器" 英文翻译 :    secondary exchanger
• "二次离子化原子" 英文翻译 :    doubly ionized atom
• "二次离子质谱法" 英文翻译 :    second ion mass spectrometry; secondary ion mass spectrometry (sims)
• "二次离子质谱计" 英文翻译 :    secondary ion mass spectrometer (sims)
• "二次离子质谱学" 英文翻译 :    secondary ion mass spectroscopy
• "二次离子质谱仪" 英文翻译 :    ion microprobe; secondary ion mass spectrometer
• "动态二次离子质谱法" 英文翻译 :    dynamic sims; dynamic standard strain device
• "二次离子成象质谱测定法" 英文翻译 :    secondary ion imaging mass spectrometry
• "二次离子发射显微分析仪" 英文翻译 :    secondary ion emission microanalyzer
• "二次离子探针质谱测定法" 英文翻译 :    secondary ion microprobe mass spectrometry
• "二次离子微量分析器" 英文翻译 :    secondary ion microanalyzer
• "二次离子质量分析器" 英文翻译 :    second ion mass analyzer
• "二次离子质谱测定法" 英文翻译 :    secondary ion mass spectrometry (sims)
• "二次离子质谱分析器" 英文翻译 :    secondary ion ma ectroanalyzer; secondary ion mass spectroanalyzer
• "静态二次离子质谱测定法" 英文翻译 :    static secondary ion mass spectrometry
• "静态二次离子质谱法" 英文翻译 :    static sims; static spring gravimeter
• "一次离子化原子" 英文翻译 :    singly ionized atom
• "多次离子交换吸附处理" 英文翻译 :    multiload treatment
• "锂离子二次电池" 英文翻译 :    lithium-ion secondary battery

• Secondary ion mass spectrometry
  二次离子质谱法
• Secondary ion mass spectrometer
  二次离子质谱计
• Secondary ion spectroscopy
  二次离子谱法
• Secondary ion spectrometer
  二次离子谱仪
• Secondary ion background
  二次离子本底
• Among the destructive techniques able to provide the desired depth resolution the most widely used technique is secondary - ion - mass spectroscopy ( sims )
  在可以提供所希望的纵向分辨率的损伤技术中，最广泛运用的是二次离子质谱（ sims ） 。
• The sims , ir and raman analysis results show that the tritium permeation barrier ( tpb ) is formed when tic and sio2 films are annealed in hydrogen at about 350 ?
  利用二次离子质谱( sims ) 、红外吸收光谱( ir )及激光喇曼光谱( raman )技术，证实了tic和sio2在350左右的氢中退火可形成防氚渗透阻挡层。
• The conductivity , components and profile of the n - type diamond were characterized by hall effect , secondary ion mass spectrometry ( sims ) and the scanning electron microscopy ( sem )
  通过hall效应，二次离子质谱( sims )及扫描电子显微镜( sem )等多种技术手段，对n -型金刚石薄膜的导电特性、成分和薄膜的形貌等方面进行了表征。
• The sims showed that the result of the concentration and the abundance ratio of li - 7 and li - 6 in the palladium wire were changed . it implied that the laser triggering on a pd wire with a low gas - loading ratio may have produced the nuclear process
  并通过二次离子质谱仪( sims )测出了钯丝中锂- 7和锂- 6的浓度变化和丰度比变化，说明在低充氢率的钯丝中，在小功率激光的触发下有产生核过程的可能。
• Polycrystalline diamond films were deposited on n - type si substrates . in order to achieve a better distribution of the implanted element , boron ions were implanted by two steps . the i - v curves were studied , the p - n junction effect is very evident
  在n型引衬底上沉积一层连续的金刚石膜，通过二次离子注入的方法使b离子比较均匀的分布在金刚石膜中，通过测量i - v曲线，可以明显的看出p - n结效应的存在。

• 二次离子的法语：ion secondaire
• 二次离子的日语：にじイオン