自测试的英文

• self testing
• selftest
• self-testing

• "试"英文翻译    try; test
• "加电自测试" 英文翻译 :    post(power on self test
• "内建自测试" 英文翻译 :    built-in self test
• "内置自测试" 英文翻译 :    bist built in self test; built-in self test (bist)
• "内装自测试" 英文翻译 :    bist
• "通电自测试" 英文翻译 :    power-on self test (post); poweron self testt
• "自测试程序" 英文翻译 :    self testing procedure; self-test program
• "自测试电路" 英文翻译 :    self testing circuit; self-testing circuit
• "自测试电门" 英文翻译 :    self-test system
• "自测试设备" 英文翻译 :    self-test equipment
• "自测试因数" 英文翻译 :    self-testing factor
• "内建的自测试" 英文翻译 :    bist built-in self test; bist,built-in self test
• "自测试继电器" 英文翻译 :    self test relay; self-test relay
• "数据自测试程序" 英文翻译 :    data self-test program
• "自测试调制解调器" 英文翻译 :    self-testing modem
• "自动化内置自测试" 英文翻译 :    automatic built-in self-test
• "自测" 英文翻译 :    self testing; self-assessment; self-test
• "拉平耦合器自测试表" 英文翻译 :    flare coupler self-test meter
• "自测试代码的重要性" 英文翻译 :    the value of self-testing code
• "自测试自修复计算机" 英文翻译 :    self-testing-and-repairing computer
• "自测题" 英文翻译 :    lesson11-15; test yourself
• "磁盘自测" 英文翻译 :    passed dst is not supported therefore the legacy tests will be run
• "单元自测" 英文翻译 :    unitastronomy the science of the stars; unitcanada-the true north
• "加电自测" 英文翻译 :    power-on self-test post
• "英语自测题" 英文翻译 :    units 9

• The pseudorandom test pattern generation for bist
  基于内建自测试的伪随机测试向量生成方法
• Instructions for use for in vitro diagnostic instruments for self - testing
  自测试体外诊断仪的使用说明
• Built - in power on self test
  内装的自测试电源
• Post power on self test
  加电自测试
• Post power on self test
  加电自测试
• Does a bit more than merely making sure no exception is raised as with the initial test script
  的文档字符串中定义的自测试所做的不仅是确保不发生异常（对照于最初的测试脚本） 。
• 5 sun x , xu j , trouborst p . testing xilinx xc4000 configurable logic blocks with carry logic modules . in proc
  在我们的方法中，虽然tpg为cut生成了测试向量，但是配置成tpg的le可以进行自测试。
• Ieee design test of computers , 1998 , 15 : 12 - 16 . 5 nicolaidis m . on - line testing for vlsi : state of the art and trends
  传统的双模比较冗余dmr结构是一种从系统级到vlsi电路级得到广泛使用的自测试结构。
• In this paper we use the bist in the testing of the ssrams in estarl according to the characteristics of the structure and get almost 100 % fault coverage
  本文针对estar1内部ssram的结构特点，实现了存储器自测试，得到了将近100的故障覆盖率。
• It discusses the architecture of testbench in functional verification of dtv chip and detailed accounts realization of memory bist ( build in self test ) method
  本章介绍了各种主流验证测试方法，着重叙述了dtv芯片中功能验证的平台结构设计和存储器内建式自测试( bist )的具体实现。