显影参数的英文

• photographic parameter

• "显影"英文翻译    develop
• "参数"英文翻译    parameter
• "射影参数" 英文翻译 :    projective parameter
• "投影参数" 英文翻译 :    projection parameters
• "阴影参数" 英文翻译 :    shadow parameters
• "全体阴影参数" 英文翻译 :    global shadow parameters
• "高级光线跟踪阴影参数" 英文翻译 :    advanced ray-traced shadows params
• "全体阴影参数；全局阴影颜色" 英文翻译 :    global shadow parameters
• "显影" 英文翻译 :    [摄影学] develop 使软片显影 develop a film; 显影机 developing machine; 显影剂 developer; 显影盘 developing dish [basin]; 显影液 developer solution; developer soup; 显影纸 developing-out paper
• "竹影参差" 英文翻译 :    the bamboo branches cast dappled shadows, now dark, now pale
• "参数" 英文翻译 :    parameter 动态参数 dynamic parameter
• "显影液,显影机" 英文翻译 :    developer
• "氨显影" 英文翻译 :    ammonia gas development
• "槽显影" 英文翻译 :    tank development
• "发育，显影" 英文翻译 :    development
• "光显影" 英文翻译 :    photodevelopment
• "热显影" 英文翻译 :    heat development; hot-type developer; thermal development
• "酸显影" 英文翻译 :    acid development
• "洗印,显影" 英文翻译 :    developed
• "显影，冲洗" 英文翻译 :    developing
• "显影；展开" 英文翻译 :    development
• "显影泵" 英文翻译 :    developerr pump
• "显影槽" 英文翻译 :    dipper; tank thermometer
• "显影粉" 英文翻译 :    developing powder; development powder
• "显影罐" 英文翻译 :    developing tank; tank

• Based on the analysis , we find refractive index of resists changes during bleaching process , and the exposure parameters vary with resist thickness , so as the development parameters . therefore , the dill exposure model and mack development model are improved , so that they are suitable for the simulation of thick resist lithography . in addition , the calculation errors from refractive index changes are discussed
  针对厚层抗蚀剂在曝光过程中折射率发生了变化以及曝光参数随抗蚀剂厚度变化的特点，改进了原有的曝光模型；针对厚层抗蚀剂显影参数随抗蚀剂厚度变化的特点以及在显影过程中出现的表面抑制效应现象，改进了原有的显影模型。