伪随机向量的英文

• pseudo-random vector
• pseudorandom vectors

• "伪"英文翻译    false; fake; bogus; forged; ...
• "随机"英文翻译    random stochastic; random
• "向量"英文翻译    vector; vector quantity
• "随机向量" 英文翻译 :    random vector
• "元随机向量" 英文翻译 :    element random vector
• "高斯随机向量" 英文翻译 :    gaussian random vector
• "随机向量生成程序" 英文翻译 :    random-vector generator
• "伪随机" 英文翻译 :    paseudorandom; pr pseudo random; pseudo random
• "飞机向量（控制）" 英文翻译 :    aircraft vectoring
• "停机向量" 英文翻译 :    stop vector
• "雁随机，伪随机" 英文翻译 :    pseudorandom
• "伪随机编码" 英文翻译 :    pseudorandom code
• "伪随机变量" 英文翻译 :    pseudo-random variable
• "伪随机的" 英文翻译 :    pseudo-random
• "伪随机反相" 英文翻译 :    pseudo random phase reversal; pseudo-random phase reversal
• "伪随机方式" 英文翻译 :    pseudo-random fashion
• "伪随机分布" 英文翻译 :    pseudo-random distribution
• "伪随机过程" 英文翻译 :    prpseudorandom process
• "伪随机激励" 英文翻译 :    pseudo random excitation
• "伪随机矩阵" 英文翻译 :    pseudo random matrix
• "伪随机量化" 英文翻译 :    pseudorandom quantization
• "伪随机码" 英文翻译 :    prc pseudo random code; pseudo noise code; pseudo random coding; pseudo-random code
• "伪随机码号" 英文翻译 :    pseudo random number
• "伪随机码流" 英文翻译 :    pseudo-random code stream
• "伪随机脉冲" 英文翻译 :    prp; pseudo random pulse; pseudo-random pulse

• 5 chakrabarty k . test scheduling for core - based systems . in proc . ieee acm int
  我们将采用确定型向量去测试那些未被伪随机向量检测到的故障。
• 6 sugihara m , date h , yasuura h . analysis and minimization of test time in a combined bist and external test approach . in proc
  换句话说，一个更长的伪随机向量将会导致更长的测试时间，而与此同时会减少存储确定型向量的存储空间。
• In this paper we propose an iterative algorithm to find the optimal combination of pseudorandom and deterministic test sets of the whole system , consisting of multiple cores , under given memory constraints , so that the total test time is minimized
  与此同时为了减少测试成本以及产品上市时间，测试时间必须被最小化。在混合的bist方法中，伪随机向量的长度是决定整个测试过程的行为的一个重要参数。
• 9 larsson e , peng z . an integrated framework for the design and optimization of soc test solutions . journal of electronic testing ; theory and applications jetta , special issue on plug - and - play test automation for system - on - a - chip , aug . 2002 , 18 : 385 - 400
  对于每个单独芯核，本文提出了一个计算伪随机向量和确定型测试向量最好组合的算法，该算法不但不违反存储器大小的约束，并且满足最小化测试时间的要求，同时还能达到最大的故障覆盖率。