薄层电阻造句
- 金电镀层薄层电阻测试方法
- 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法
- 本文还利用单片机系统设计了薄层电阻测试电路，对于程序中用到的范德堡隐函数，利用非线性反演和规范化拟合的方法推导出其多项式显函数形式。这不仅给对我们编写程序提供了方便，也为使用范德堡法和rymaszewski法测量薄层电阻提供了便利。
- 首先介绍了制备各种样品所用的实验仪器、设备与方法；第二节中介绍了实验系统，包括氧化系统、扩散系统，第三节介绍了样品的制备，包括ga的预沉积、再分布、二次氧化样品，扩硼样品，以及扩嫁晶体管、扩硼晶体管和扩镰后再补充扩硼晶体管的制备流程；实验所得样品，借助二次离子质谱（ sims ） 、扩展电阻（ srp ） 、四探针薄层电阻等先进的测试分析方法进行分析。
- 这样，完成200mm ( 8时)圆片杂质的扩散分布需要对许多图形进行测试，需要花费很长的时间，当测试300mm硅片时问题就更为突出。本文将图象与视觉测量系统引入四探针测试系统中，对采集到的原始探针图像进行预处理、边缘提取等操作，以便实现探针针尖的识别，然后由电机控制实现探针的自动定位。这样测试系统可以自动获得全片的薄层电阻分布，为超大规模集成电路检测杂质分布和扩散的均匀性提供信息。
- 用薄层电阻造句挺难的，這是一个万能造句的方法
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