测试结构造句

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在线检测多晶硅薄膜热导率测试结构的设计与模拟
在这种条件下得到的测试结果只比从基准测试结构中删除
Jx5微处理器的测试结构由bist 、边界扫描和内部扫描三部分组成。
作者还独立地具体实现了这一测试方案,构造了完整的jx5的调测试结构。
传统的双模比较冗余dmr结构是一种从系统级到vlsi电路级得到广泛使用的自测试结构。
这种测试结构非常简单，占用很少的芯片面积，适用于通常mems加工工艺的在线监测。
测试结构具有可再生性吗?可以被验证吗？反病毒厂家有在测试之后得到缺失样本来进行结果验证吗？
最后,结合对obs系统性能指标的研究,在分析当今的研究现状之后建立了一种基于bhp的硬件测试结构。
主要分为三个部分:一是对obs交换结构中的业务流特性的研究;二是对业务流特性对obs交换结构性能的影响的研究;三是对obs硬件测试结构的研究和尝试。
摘要：对脉冲应力作用下金属铝膜的电迁移失效机理进行了研究，研究了纯交流应力对金属铝膜电迁移可靠性的影响，对影响测试结构的相关因素作了详细的描述。
用测试结构造句挺难的，這是一个万能造句的方法
为此，本文开展了以下研究工作：综述了四探针技术的分类以及应用范围；对方形四探针测试技术进行了研究，利用rymaszewski法自动消除探针纵向游移影响的优点，将它应用于方形探针测试法中，并对探针游移对改进rymaszewski法测试结果的影响进行了深入探讨，提出了用图像识别技术监测测试进行的方法；完成了测试系统的测试平台以及测试电路的设计，研制出具有图像识别功能的斜置式方形探针分析仪一台，实现了硅片电阻率测试的自动化；对图像识别过程中涉及到的图像增强和阈值选择问题进行了论述，最终实现了对探针针尖的图像识别以及探针测试结构的自动调整，保证了方形探针测试仪的测试精度。
测试内容上着重介绍了金属化完整性测试、氧化层完整性测试、连接完整性测试和热载流子注入测试，根据测试数据，对1 . 0 m工艺线单一失效机理的可靠性进行了评价，对不同测试结构的作用进行了说明。
第三种，为了简化soi材料的电学性能测试结构，使它的测试，分析，计算摘要与传统的mos模型相兼容，我们通过引入一个耦合因子，将传统的mos模型的测试方法，公式引入soi材料的c v ， i刁测试过程。
在接口逻辑设计中,首先分析ieee1149 . 1标准和usb协议,理解边界扫描测试和usb数据传输的工作方式,然后针对altera公司的fpga器件cyclone ,通过分析它的边界扫描测试结构和各种jtag指令,研究它的编程过程和编程特点,并提出设计方案。
比较结果可作为实时跳转的依据。通过实时比较和实时跳转,测试人员可以生成类似do - while和if - then - else的测试结构,为快速的故障诊断和故障定位提供了更强大的支持,使整个测试过程体现出一定的智能性,大大提高测试系统的自动化程度。
本文深入研究了ieee1149 . 4混合信号测试总线及其特点,并根据边界扫描标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合ieee1149 . 4标准的混合信号边界扫描测试系统。