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故障覆盖率造句

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  • 通过使用该特征多项式,我们将获得对待测电路的最大故障覆盖率
  • 实践表明, naac算法生成的测试矩阵具有较高的故障覆盖率
  • 在绝大多数情况下,这就意味着如果我们运行伪随机测试足够长的时间,那么我们就可以获得100的故障覆盖率
  • 瞬态电流测试方法可以测试一些其他测试方法无法检测的故障,进一步提高故障覆盖率
  • 并对cmos电路与bicmos电路的桥接故障作了iddq检测仿真实验,分析了iddq检测的故障覆盖率
  • 一个好的可测性设计不仅要具有较高的故障覆盖率,而且测试模块所占芯片面积要做到尽量的小,以便少占用资源。
  • 本文针对estar1内部ssram的结构特点,实现了存储器自测试,得到了将近100的故障覆盖率
  • 在混合bist方案中,我们会在伪随机测试过程中终止伪随机测试,因为剩下的伪随机测试会降低伪随机测试的故障覆盖率
  • 在我们的方案中,我们考虑了存储器大小的约束多核系统的最小化测试时间以及较高的故障覆盖率
  • 通过分析得出系统的故障覆盖率与维修率在容错系统的评价过程中起到非常重要的作用。
  • 故障覆盖率造句挺难的,這是一个万能造句的方法
  • 与现有测试生成器相比,基于蚂蚁算法的测试矢量生成结果中,有近一半的标准电路获得了最高的故障覆盖率;在生成速度方面远高于strategate等算法。
  • 动态电流提供了一个观测电路内部开关性能的新的窗口,动态电流测试方法为进一步提高故障覆盖率提供了可能。
  • 实验数据表明分层测试产生算法能大大压缩电路测试集(约为66 ) ,而故障覆盖率有略微下降,时间性能也有些许降低。
  • 它通过从电源电流信号中提取有效的信息来进行故障诊断,能够提高故障覆盖率,降低测试成本并提高集成电路产品的质量与可靠性。
  • 本文针对嵌入式微处理器estar1的结构特点,研究并实现了边界扫描、内部全扫描和内建自测试三种可测性设计技术,取得了良好的效果,故障覆盖率达到96以上。
  • 长期以来在可测性设计阶段,故障覆盖率一直是测试设计关心的重要课题,如今在一个芯片中包含了如此多种类型的线路,更为解决测试覆盖率问题增加了难度。
  • ( 2 )编写了一套基于des理论的电路测试的演示软件,实现了对被测电路的可测试性判断、故障覆盖率和最小测试集求取的算法,能够实现对电路测试的各项功能。
  • 3 、利用borlandc + + builder语言编写了一套电路测试与诊断演示软件,能够实现对特定电路的可测性判断、故障覆盖率、快速测试和故障诊断等各项功能。
  • 对于每个单独芯核,本文提出了一个计算伪随机向量和确定型测试向量最好组合的算法,该算法不但不违反存储器大小的约束,并且满足最小化测试时间的要求,同时还能达到最大的故障覆盖率
  • 本文根据estar1的实际情况,设计实现了全扫描结构,既得到了较高的故障覆盖率,又对电路的延迟和芯片面积影响很小(延迟时间增加0 . 3 ,芯片面积增加0 . 01 ) 。
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