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反射物镜造句

造句与例句手机版
  • 极紫外光刻(EUVL:Extreme Ultraviolet Lithography)原理实验早在80年代由日本H.Kinoshita提出并验证,EUVL利用波长13.5nm或11.2nm光源(Mo/Si或Mo/Be多层膜对该波长具有较高的反射率)、非球面反射物镜实现缩小投影曝光,由于波长的减小和使用非球面反射镜,EUVL作为实现45nm-22nm分辨率的优选光刻技术之一得到了广泛的重视。
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