スピル中文是什么意思

• （４）すべてのノードが隣接ノード数ｋ以上となった場合は，（スピルコスト／隣接ノード数）が最小となるノードをスピルの候補として登録してＧから取り除き，再び（２）の作業に戻る．
  （４）当所有的节点超过邻接节点数ｋ的时候，把（溢出成本／邻接节点数）为最小的节点作为溢出的候选登录，从Ｇ中删除后再回到作业（２）。
• （４）すべてのノードが隣接ノード数ｋ以上となった場合は，（スピルコスト／隣接ノード数）が最小となるノードをスピルの候補として登録してＧから取り除き，再び（２）の作業に戻る．
  （４）当所有的节点超过邻接节点数ｋ的时候，把（溢出成本／邻接节点数）为最小的节点作为溢出的候选登录，从Ｇ中删除后再回到作业（２）。
• 手法２では，並列性の抽出をコード全体に対して見いだすようにしているため，レジスタの生存時間を長く見積もる結果となることが多く，このような余分なスピルコードの増加が避けられない．
  因为在手法２中希望对于编码全体找到并列性的抽出，所以很长地估计寄存器的生存时间这样的结果很多，不能避免这样的多余的漏出编码的增加。
• 評価の方法としてはレジスタ数３２個での，Ｘ　＝　８としてコンパイルした場合の依存間の距離の平均値およびスピルレジスタ数の合計を調べ，Ｘ　＝　３２とした場合と比較をする．
  所谓评价的方法就是计算寄存器数为３２个的以Ｘ　＝　８来进行编译的时候的依赖间的距离的平均值以及溢出寄存器数的总和，并且把其和在Ｘ　＝　３２的情况下相比较。
• 本論文は、ガリウム砒素とケイ素高圧太陽電池アレイをＥＳＤの地面模擬実験を行い、二種類の高圧太陽電池アレイサンプルを充、放電の実験を行い、高圧太陽電池アレイの持続的なスピルオーバ―放電の形成メカニズムを分析した。
  针对砷化镓和硅高压太阳阵进行ＥＳＤ地面模拟实验，通过两类高压太阳阵样品充放电对比实验，重点分析高压太阳阵持续飞弧放电形成机理．
• 一方，ラウンドロビンでは再利用される実レジスタを空間的に分散させ，レジスタ割当てによって生じる冗長な依存関係をより少なくするという点において優れているが，レジスタスピル数は増大する傾向にある．
  另一方面，虽然轮转方式具有可以使再利用的实寄存器进行空间分散，更能使通过寄存器分配生成的冗余的依赖关系减少的优点，但是寄存器溢出数有增大的倾向。
• そして，この過程において，（１）レジスタ割当てによって新たに生じた冗長な依存の数，（２）新たに依存関係となった命令間の距離，（３）スピルの対象となった疑似レジスタ数，の３つについてスタティックな解析を行った．
  而且在此过程中，对（１）由寄存器分配而新生成的冗余的依赖的数量，（２）生成新的依赖关系的指令间的距离，（３）作为溢出的对象的伪寄存器数，这３点进行静态解析。
• １５０℃で酸化的ＮＯ吸着によって飽和した後Ｈ２を供給すると，Ｐｄからスピルオーバした水素はＭｎＯｘ?ＣｅＯ２上に吸着した亜硝酸化学種の還元のみならずまたアニオン欠陥と気相ＮＯの間の反応も引き起こした。
  在１５０℃下，供应通过氧化的ＮＯ吸附饱和了之后的Ｈ２的话，Ｐｄ溢失的氢不仅只进行吸附到ＭＮＯｘ－ＣｅＯ２上的亚硝酸化学物质的还原，还引起了阴离子缺陷和气相ＮＯ之间的反应。
• 手法２では，並列性を考慮したレジスタ干渉グラフを用いることにより並列性の抽出を行っているが，コードの並列度に対するレジスタ数が少ないときには，レジスタプレッシャーが上がる結果となり，余分なスピルコードが出てしまうことがある．
  在手法２中，通过采用了考虑了并列性的寄存器干涉图表进行了并列性的抽出，对于编码的并列度的寄存器数少的时候，有寄存器压力提高的结果，多余的漏出编码有可能出现。
• ＳＲ８０００では汎用レジスタの拡張は行われていないため，変数Ｖが整数型変数である場合，モジュロ変数展開８）によって，ループのコード量増加や，必要となる汎用レジスタ数の増加によるレジスタスピルを生じるおそれがある．
  ＳＲ８０００因为没有进行通用缓存器的扩张，所以当变量Ｖ为整数型变量时，通过模块变量的展开８），由于回路的编码量的增加，或者所需要的通用缓存器数量的增加，则会产生缓存器的溢出。