进位的日文

• 本節では，順次桁上げ加算器の多重縮退故障に対するテスト集合について考察する．
  在本节中，将考察有关对顺次进位加法器多重固定型故障的测试结合。
• 膜厚が不規則に変化するのは，ランダムな２進数を１０進数に変換したためである。
  膜厚不规则的变化是由于随机的２进位数转换成了１０进位数造成的。
• 膜厚が不規則に変化するのは，ランダムな２進数を１０進数に変換したためである。
  膜厚不规则的变化是由于随机的２进位数转换成了１０进位数造成的。
• 桁上げ先見加算器についても，多くの実現方法が存在する．
  即使关于超前进位加法器，也存在很多的实现方法。
• Ｘｉ，ｙｉのうち一方が１で他方が０の場合，下位からの１の桁上げが上位へ伝搬する．
  ｘｉ、ｙｉ中当一方为１另一方为０时，１进位由下位传播到上位。
• ビットｉからの桁上げ信号Ｃｉ＋１は，＠ｅｑｕａｔｉｏｎ＿０＠で表される．
  从二进位数ｉ出发的加位信号Ｃｉ＋１通过＠ｅｑｕａｔｉｏｎ＿０＠表示。
• このテスト集合を４　ｍビット桁上げ先見加算器の各セルに適用する場合を考える．
  我们将考虑将这种测试集合适用于４ｍ位超前进位加法器各个单元的情况。
• この段階では桁上げが発生しないので，通常の２進表現と同じ方法で加算を行う．
  由于在这一阶段上不产生进位，用和普通的２进制表现相同的方法运行加法。
• Ｚｉはｓｉ，ｃｉ？１のみから求まり，桁上げは生じない．
  仅从ｓｉ、ｃｉ？１中求得ｚｉ，不生成进位。
• 前章で述べたＣＴＤは，桁上げ伝搬の制限された冗長加算アルゴリズムを統一的に表現する．
  前章中论述的ＣＴＤ，统一的表示进位增加受限制的重复叠加算法。